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  • クライフ
    クライフ
    従業員

    hhkkuu様

    DMTIMERにはauto-reloadモードが用意されております。
    タイマーカウンタがオーバーフロー後、タイマーカウンタ(TCRR)がタイマーロードレジスタ(TLDR)の値をリロードします。

    デバッガで確認時、TLDRも同様に0xA269となっておりましたでしょうか。
    また、auto-reloadモードを設定する、TCLR.ARビットがセットされておりましたでしょうか。

    Technical Reference Manual P.4442 20.1.3.1 Timer Mode Functionalityを合わせて参考にしていただければ幸いです。

    以上、ご確認を宜しくお願い致します。
    クライフ

    #9479

    Kato
    従業員

    ishi1126 様

    波形を取得して下さり、ありがとうございます。

    SpeakerをBTL接続で使用されていると思いますので、Oscilloscopeの波形演算機能を使用して
    Speaker端にかかる電圧差分を表示して頂けますでしょうか?
    具体的にはL5のSpeaker側とL6のSpeaker側をMonitorして頂き、波形演算機能により”L6 – L5″の
    演算波形を取得願います。

    また、C87、C88を未実装にした場合にL5のSpeaker側の波形を拝見しますと、3.7MHz程度で
    発振しているように見受けられます。
    Lが33uHですので、浮遊容量の概算より57pF程度と思われます。
    そこで、C87、C88を未実装の状態から100pFを追加した場合に発振周波数が2.2MHz程度に変化すれば、
    LC共振によるものと判断することが出来ます。
    発振はInductor、Capacitor、基板Patternなどに起因しますが、直流重畳許容電流に余裕のある
    Audio Amp向けのInducotrをご使用願います。

    Kato

    #9477

    Undertale
    従業員

    ET様

    本件確認を取らせて頂きましたが、
    UCC21520は、A chとB chの同時オンを行うことが可能な製品となります。
    DTピンをVCCIピンに接続頂き、Overlapモードにてご使用下さい。
    何卒宜しくお願い致します。

    Undertale

    #9476

    ishi1126
    参加者

    補足です。黄色が/FAULTで水色がLC Filter後の出力波形になります。
    33uHと1uFでは/FAULTが定期的にLowにドライブされますが、C87、C88を未実装にした場合は常にHighとなります。
    その他必要な情報があればご連絡お願い致します。

    #9463

    choco
    従業員

    khiroki様

    お問合せいただきありがとうございます。
    参考値ではございますが、OV CLAMPの応答速度は数μs~数十μs程度になります。
    その為、100nsのスパイクノイズに対してのクランプは難しいかと考えます。
    ご了承いただけますと幸いです。

    choco

    #9462

    Kato
    従業員

    ishi1126 様

    C87、C88を10uFから1uFにご変更頂いても/FAULT PinがLowにAssertされるとのことですが、
    TPA3112D1の入力を無信号にした際に(DACの入力をZero Dataとした際に)、Oscilloscopeで
    LC Filter後の出力波形をご確認頂くことは可能でしょうか?
    33uHと1uFによるLC共振を疑っております。
    /FAULT PinがLowにAssertされるTimingでTriggerをかけ、その直前の出力波形をMonitorして下さい。
    また、ReferenceとしてC87、C88を未実装にした場合の出力波形も取得して頂けますと幸いです。

    Kato

    #9461

    Polnaref
    従業員

    wdwune様

    >> 動作電流を引けなくなる以外にどのような問題が起こるのでしょうか?
    ICとしましては、データシート記載のVcc(min)を割り込まなければ正常に動作致します。
    考えられるのは、設計後の実動作上において、放射ノイズの懸念が考えられます。

    FETをONする際のGate電圧がVccの変動に依存するため、電圧によってFETのTurn-ON/OFF時間が変化致します。
    PWBのパターンが適切であれば”ある程度は”抑えられますが、さらなる対策が必要となりますと、FETのGate抵抗の調整が必要になると思われます。
    Gateの抵抗を大きくしますと、放射のレベルは低減しますが、その分FETでのスイッチ損が増加し、その分放熱を要する場合が御座います。

    つまり、Vccが変動する環境下では、放射ノイズに対する対策の「最適点」を見つけることが難しくなります。

    従いまして、今回のケースでは、もし可能ならばVccの固定(Max6.5V程度でクランプ)が望ましく思います。

    Polnaref

    #9454

    wdwune
    参加者

    ご指摘の通り、抵抗/コンデンサを調整したところ
    異常発振を抑えることができました。

    対策を行っている中で気になった点なのですが
    Vin端子の抵抗 R を大きくしすぎると、動作電流を引けなくなる以外にどのような問題が起こるのでしょうか?

    また、抵抗を 270Ω つけてみたところ、 Vin端子電圧が 添付波形のようになりました。
    (添付波形 青:Vgs , 水色:Vin)
    Vin端子電圧が、 700mV ~ 800mVのリップル幅を持ってしまいました。
    この理由としてはどのようなことがあげられるでしょうか?
    ご教授願います。
    (比較として220Ωを付けた際の波形を2枚目に添付します。)

    #9452

    トピック: TMP275の絶対最大定格について

    フォーラム内 センサー

    0203
    参加者

    TMP275データシート内の絶対最大定格にInput voltage -0.5V~7V とあるが、
    SCL,SDAピンにこの値を適用してもよいか教えてください。

    #9450

    トピック: A,B同時オンの可否

    フォーラム内 モーター・ドライバー

    ET
    参加者

    お世話になります。
    UCC21520の使用を検討しております。
    動作上、A chとB chの同時オンが必要となるのですが、
    典型的なハーフブリッジドライバーを用いた場合、
    保護機能が働き、排他動作あるいは同時OFFとなるかと思います。
    当該ドライバーでは、このような保護動作なく
    A chとB chの同時オンを行うことが可能でしょうか。
    よろしくお願いいたします。

    • このトピックは ETが5 年、 3 ヶ月前に変更しました。
    #9447

    トピック: TPS259230について

    フォーラム内 電源IC

    khiroki
    参加者

    TPS259230のOV CLAMP機能について。
    本機能の応答速度はどの程度になるでしょうか。
    例えば、100ns間、6.1Vを越えるような、
    スパイクノイズを、クランプすることは可能でしょうか。

    クライフ
    クライフ
    従業員

    hhkkuu様

    ご教授いただき、ありがとうございます。

    再度調査いたしまして”OSAL_TEST_TIMER_PERIOD”ですが、正確にはOSへ供給するシステムティックの周期でございました。
    AM335xシリーズでは、システムティックへのクロック供給はデフォルトではCPU(A8)のクロックを使用しています。

    いただきましたサンプルでは、CPU(A8)のクロックが726MHzで設定されている可能性がございます。
    その場合、1/726MHz[s]のティック周期から726000カウント毎(1ms毎)にタイマー割り込みがかかるものと推測いたします。
    先日の回答で誤解を与えてしまい、大変申し訳ございません。

    システムティックに対するCPU周波数について、下記HPにて記載がございます。

    Processor SDK RTOS : 10.2.2.1.7.2. How to get accurate clock ticks from the clock module?

    大変恐縮ですが、デバッガにてCPU周波数が726MHzとなっているか、上記資料ならびにTechnical Reference ManualのPLLを参考にご確認をいただければ幸いです。

    AM335x and AMIC110 Sitara™ Processors Technical Reference Manual (Rev. Q)

    以上、よろしくお願いいたします。
    クライフ

    #9441

    トピック: NAND Flashのbadblockについて

    フォーラム内 メモリ

    papiron
    参加者

    ある製品が起動しなくなり,メーカに確認したところ,
    MICRON製のNANDフラッシュ:29F1G08ABAEAを使用しており,
    NANDフラッシュにバッド・ブロックが発生し,CPUからアクセスができなくなったといわれました。
    ある時期まで,正常に動作していたのですが,急にアクセスできなくなりました。

    質問は,
    ・バッド・ブロックとはどのようなものか?
    ・使用しているうちにバッド・ブロックが発生するものなのか?
     →発生する場合,どのような要因が考えられるか?(読み込みだけで発生するのか?,書き込みをおこなうと発生?など)

    よろしくお願い申しあげます。

    #9440

    Polnaref
    従業員

    wdwune様

    >> 抵抗を R= 56Ω , 100Ω , 1kΩ に変化させてみたところ
    >> 抵抗が大きい方が異常発振が顕著に表れるといった結果でした。
    電力用フィルタとしてはRが大きすぎる感じが御座います。

    データシートのp22、「8.2.1.2.8 Input Capacitor Selection」項にRCフィルタの定数に関する記載が御座いますので、御参照頂きたく存じます。
    VinからVccの間にRCにてΠ型フィルタを構成し、その際のRCの定数は、Vin -> 10uF -> 20Ω -> 1uF -> Vccが宜しいかと存じます。

    今後とも宜しくお願い申し上げます。

    Polnaref

    #9439

    Kato
    従業員

    ishi1126 様

    通常動作時だけでなく、出力短絡時も考慮しておく必要がございます。
    出力短絡によりInductorが飽和することで、短絡保護が間に合わず、
    Deviceが損傷することがございます。
    また、通常運用時においても瞬間的に変化した電流によりInductorが飽和し、
    同じくDeviceが損傷する場合がございます。
    安全のために大電流対応品をご使用頂きたいところですが、最低でも
    2A以上の電流が許容可能なInductorのご使用を推奨させて頂きます。

    Kato

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