[aikawa参加者]

実際、eZ-FET lite Onboard Emulatorを使用し、JTAG経由で書き込みを使用とした際、
デバイスの認識ができませんでした。
また、slau533 12ページの内容を見ると、”backchannel” UART-over-USB に関してのみの記載と
認識致しましたが、上記、回答の通りでしょうか？

>しかし、「MSP-EXP430F5529LP」に搭載されている「eZ-FET lite Onboard Emulator」自体は、
>UART経由、JTAG経由を問わず、ほぼ全てのMSP430をサポートすることが出来ます。

[umamiti従業員]

aikawa様
ご投稿いただきありがとうございます。

「MSP-EXP430F5529LP」としては、UART経由、JTAG経由を問わず、
「F552xのみサポートしている」と記載されています。
※2. slau647m 4ページの記載内容

しかし、「MSP-EXP430F5529LP」に搭載されている「eZ-FET lite Onboard Emulator」自体は、
UART経由、JTAG経由を問わず、ほぼ全てのMSP430をサポートすることが出来ます。
※1. slau533 12ページの記載内容

以上、よろしくお願い致します。

MSP-EXP430F5529LPの書き込み機能について、教えて下さい。

下記の資料について、認識があっているか確認させてください。
１．slau533 12ページを確認すると、”supports almost all MSP430 MCUs”の記載がありました。
→UART経由の書き込みは、ほぼ全てのMSP430をサポートしている。
２．slau647m 4ページ “Supports only F552x”の記載がありました。
→JGAT経由での書き込みは、F552xのみサポートしている。

結果、MSP-EXP430F5529LPは、UART経由の書き込みは、ほぼ全てのMSP430をサポートしているが、
JTAG経由の書き込みは、F552xのみサポートしているという認識で合っていますでしょうか？

　TPS54620のゲイン-位相特性の測定したいと考えておりますが、
TPS54620の評価基板のユーザーズガイド(SLVU281A)のp5に記載されているように
R7を用意し、TP7,TP8,TP9を例えばNF回路設計ブロック社製
周波数特性分析器(FRA5097)に接続するすると測定できますでしょうか？
　また、TPS74801についてもTPS54620と同様に、正弦波注入用の抵抗を
用意し、周波数特性分析器(FRA5097)に接続する方法で測定できますでしょうか？

弊社開発機種にて、電源保護としてTI製TPS25944LRVCの使用を検討しております。
万が一TPS25944LRVCが内部回路が故障した場合、故障モードとしてOPENモード、ショートモード　どちらになるでしょうか。

以上ご回答よろしくお願いいます。　

[KJ従業員]

yamanba様

メーカ確認しましたところ、25℃時のばらつきは93.5KHz to 106KHzとの回答を得ました。
これは全温度規定値から温度変化量を差し引いての値であると思われます。
仕様規定値に関係するので規定マージン分は加味されていると考えますが、
上記数値を考慮してRT値を決めて頂けますようお願い致します。

以上、宜しくお願い致します。
KJ

TPS51200でゲイン-位相特性の測定が可能か教えてください。
TPS51200は例えばNF回路設計ブロック社製　周波数特性分析器(FRA5097)で
ゲイン-位相特性の測定することは可能でしょうか？
　もし可能で、回路やパターンで用意する必要があることがございましたら
教えてください。

　TPS53355とTPS53319のゲイン-位相特性の測定方法について教えてください。
　TPS53355とTPS53319のゲイン-位相特性の測定したいと考えておりますが、
TPS53355の評価基板のユーザーズガイド(SLUU522)のp5に記載されている
TP10,TP11,TP12を、例えばNF回路設計ブロック社製　周波数特性分析器(FRA5097)に
接続するすると測定できますでしょうか？

[Yojiro従業員]

Tsysdesさん

CC2652Rでは、内蔵DC/DCコンバータの他に内蔵LDOを持っており、内蔵DC/DCを使用しない場合は、内蔵LDOを使用していただくことになります。詳細はTechnical Reference Manualの7.3.1 Internal DC/DC Converter and Global LDOをご確認ください。
また、ソフトウェアでは、CCFGのMODE_CONFレジスタにあるDCDC関連ビットを使用しない設定にしていただく必要がございます。

内蔵LDOは内蔵DC/DCとくらべ、消費電力は20～30%増加するとのことです。

なお、CC2652Rは外部のレギュレータには対応しておりません。

メーカーでは、内蔵DC/DCをお使いいただくことを推奨しており、内蔵LDOを使用する場合のリファレンスデザインは用意されておりませんので、ご注意ください。

 

ご確認のほど、よろしくお願いいたします。

[umamiti従業員]

ご返信ありがとうございます。

お手数ですが、以下の項目をお試しいただけますでしょうか。
・unsigned charで宣言した変数に、volatileを付け加える
・unsigned charで宣言した変数を、グローバル変数として扱う
・unsigned charで宣言した変数をFlash(FRAM)領域で使用している場合、RAM領域で使用する
・コメントアウトを行う際に「//」を使用し、最後に「能」という文字がある場合、別の文字に変える

＞なお、unsigend short型については変更ができます。
→こちらは同じ変数でも、型の宣言を変えるだけで、
Expressions上で値を変更出来るという認識であっていますでしょうか。

以上、よろしくお願い致します。

[Yojiro従業員]

ttkkttkkさん

工場出荷状態では、Boot Mode PinにGPIO72,84が使用されますので、この2つのポートがH状態であればFLASHから起動されます。

このとき、Z1_BOOTCTRLへの書き込みは不要です。Z1_BOOTCTRLおよびZ2_BOOTCTRLは工場出荷時には未書き込み（0xFFFFFFFF: Key=0xFF）ですので、Factory DefaultとしてBoot Mode PinにはGPIO72,84が使用されます。

ご確認のほど、よろしくお願いいたします。

[Yojiro従業員]

Tsysdesさん

ZStackとして電波法向けのテストモードは用意されておりません。
基本的に無線試験に関しましては、SmartRF Studioでテスト可能だと思いますが、認証機関に試験内容をご確認いただけき、SmartRF Studioで実現可能課ご検討いただけますでしょうか。ご確認いただいた上で、SmartRF Studioで実現できない部分は実装いただくことになります。

ZStackでは”Monitor and Test API”が用意されておりますので、電波法認証に向けての処理は実装していただけるものと考えます。

ご確認のほど、よろしくお願いいたします。

[amatsu1参加者]

早速の回答ありがとうございます。

10進数のみ入力しておりますが、変わりません。
また、Number Formatをご教示いただいた方法でDecimalにしても変わりませんでした。

なお、unsigend short型については変更ができます。

以上、宜しくお願い致します。

[umamiti従業員]

amatsu1様
ご投稿いただきありがとうございます。

お手数ですが、以下の項目について、ご教示いただけますでしょうか。

Expressions上の「Value」を変更する際には、
10進数表示の場合、10進数のみを入力していますでしょうか。
※表示については、数値上で右クリックし、「Number Format」から切り替え可能です。

以上、よろしくお願い致します。

回路図 WCS037B_Schematics.pdf を見ると、
CC2652の33ピンが、DCDC_SWとなっていますが
DCDCコンを使わないような設定はありますか？