フォーラムへの返信

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  • 返信先: DAC update wait timeについて #14038

    Nishie
    従業員

    maida様

    ご回答頂き、ありがとうございます。

    その点もふまえて確認できればと存じます。

    以上、宜しくお願いいたします。

    Nishie

    返信先: DAC update wait timeについて #14035

    Nishie
    従業員

    maida様

    ご連絡が遅くなり、申し訳ございません。

    現在、メーカーに確認しておりますので、もう少々お待ち頂けますと幸いです。

    またmaida様の使用方法として、データ更新を早くしたいという認識でよろしいでしょうか。

    以上、何卒宜しくお願いいたします。

    Nishie

    返信先: DAC update wait timeについて #14004

    Nishie
    従業員

    maida様

    CH1のデータ設定後、CH3のデータ設定を行う場合は、2.4us以上CSをHighにして頂く必要がございます。

    以上、宜しくお願いいたします。

    Nishie

    返信先: DAC update wait timeについて #14002

    Nishie
    従業員

    maida様

    お問い合わせ頂きありがとうございます。

    Sequential DAC update wait timeは、CH毎にデータ書き込みを行う際の待機時間になります。

    つまり、あるCHのデータレジスタに書き込みを行ってから、他のCHのデータレジスタに書き込みを行う場合の待機時間になります。

    一方でBroadcast DAC update wait timeは、Broadcast modeにてデータ書き込みを行う際の待機時間になります。

    Broadcast Registerにより1つのデータをレジスタに書き込み、複数のDACからそのデータを出力し、新たにデータを書き込みしたい場合の待機時間になります。

    以上、宜しくお願いいたします。

    Nishie

    返信先: ADS1158の電源について #13806

    Nishie
    従業員

    kiatbe様

    お問い合わせいただきありがとうございます。

    回答としては以下になります。

    1.AVDD>DVDDとなりますが、データシート上ではAVDDとDVDDの電圧依存について記述が有りませんでした。
    年の為の確認なのですが、この様な使用でも問題無いでしょうか?

    →はい、問題ございません。

    また電源投入時のAVDDとDVDDの立ち上げの順序に関して、データシート, P22, POWER-UP SEQUENCEに「The power supplies may be sequenced in any order. 」と記載がございます。

    補足と致しまして、データシートの絶対最大定格では以下のように規定されており、kiatbe様の使用条件ではICが破壊されることはないと考えます。

    ・AVDD to AVSS = -0.3 to +5.5 V → 5.0V OK

    ・AVSS to DGND = -2.8 to +0.3 V → 0V OK

    ・DVDD to DGND = -0.3 to +5.5 V → 3.3V OK

    更に以下のように推奨動作範囲内での使用条件となっておりますため、問題ございません。

    ・DVDD = 2.7(min) to 5.25(max) V → 3.3V OK

    ・AVSS = -2.6(min) to 0(max) V → 0V OK

    ・AVDD = AVSS + 4.75(min) to AVSS + 5.25(max) V → AVSS=0V とした場合5.0V OK

    ・(VREF = VREFP – VREFN) = 4.096(typ) V → VREFN = 0Vとした場合VREFP = 4.096V OK

     

    2.あと、DGNDとAVSS,REFNは分離し、ICの下あたりで接続すれば良いでしょうか?

    →ご認識の通りで問題ございません。

    アナログとデジタルのノイズ対策という面では、一点接続を推奨しております。

    以上、宜しくお願いいたします。

    Nishie


    Nishie
    従業員

    lufetch様

    重ねての返信となり申し訳ございません。

    インダクタ容量(L)を大きくし、かつインダクタのサイズも大きくして頂けないでしょうか。

    インダクタ容量だけ大きくした場合、インダクタの直流抵抗(RDC)値が上がり、損失があまり改善されない可能性がございます。

    インダクタのサイズも大きくすることで損失を抑えられます。

    Nishie

    返信先: LP8758-E0の未使用portについて #13595

    Nishie
    従業員

    maida様

    お問い合わせ頂きましてありがとうございます。

    内部レジスタにて未使用のチャンネルをDisableに設定して頂き、

    VIN_B1はVIN、FB_B1はGND、SW_B1はOpenに接続して頂きますようお願いいたします。

    Nishie


    Nishie
    従業員

    lufetch様

    お待たせいたしました。

    周波数を落として消費電流が大きくなった原因として、「周波数を遅くしたがインダクタの値を大きくしていない」ということが考えられます。

    これにより、同期整流DCDCコンバーターで発生するFETのデッドタイム時に、内部FETのボディダイオードに流れる電流が大きくなり、損失が大きくなったと考えられます。

    インダクタを流れる電流(I)はI=Vt/Lで求めることができます。ここでVは入力電圧、tはFETのOn時間、Lはインダクタ容量です。

    同じ時間動作させた場合、周波数を遅くすることに伴い、tは増加します。

    そしてV, Lを変更していないとすると、Iが増加することになります。

    この増加したIがボディダイオードに流れることで消費電流(損失)が大きくなります。

    <解決策>

    インダクタ容量(L)を大きくしてみて下さい。


    Nishie
    従業員

    lufetch様

    ご投稿ありがとうございます。

    スイッチング周波数を落としても、消費電流が増加する要因に関しましてメーカーへ確認いたします。

    また、消費電流をテスターで測定されておりますが、オシロスコープにて電流値および波形を確認して頂けないでしょうか。

    テスターでは電流の正確な情報が取得できていない可能性があり、オシロスコープで値の経時変化を見ることで正確な情報を取得できると考えられます。

    以上、宜しくお願いいたします。

    Nishie

    • この返信は4 年前に  Nishie さんが編集しました。
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