C2000このトピックには4件の返信が含まれ、2人の参加者がいます。1 年、 10 ヶ月前に 
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guest「SC_ERR_PATH_MEASURE」エラーについて
F280049Cマイコンを使用した自作ボードにて開発を行っています。
デバッグプローブはTMDSEMU110-Uを使用しており、
今まで問題なく使用できていたのですがあるタイミングから以下の
エラーが発生し、ターゲットへ接続できなくなりました。The value is ‘-230’ (0xffffff1a).
The title is ‘SC_ERR_PATH_MEASURE’.The explanation is:
The measured lengths of the JTAG IR and DR scan-paths are invalid.
This indicates that an error exists in the link-delay or scan-path.繰り返しリトライしていると偶に接続成功することもあるので
ハードウェア的な問題も考えられるのですが、問題について
どの様に調査すれば良いでしょうか。ご投稿ありがとうございます。
頂いたエラー内容はこちらの「Debugging JTAG – Path measure」の情報に類似していると考えます。
お手数ですが、以下の点についてご確認頂けますでしょうか。- データシート「7.9.5 Emulation/JTA」を参考に、すべての物理的なJTAG接続を確認し、電気的に信号や接続に問題がないことを確認する。
- こちらの動画をご参考にXDS110のTCLKを下げ、書き込み動作が安定するかを確認する。
以上、よろしくお願いたします。
guestご回答ありがとうございます。
JTAG clockを5.5MHzから100kHzに変更したところ接続が成功しました。
こちらのClockを低くすることによるデメリットはありますでしょうか。
また、従来は5.5MHzでも接続可能だったのですが、
基板やケーブルの劣化などハードウェア的な問題でこちらの
前述のエラーが発生しやすくなることがあるのでしょうか。以上ご確認の程よろしくお願いいたします。
ご確認ありがとうございます。クロック変更により接続が成功したとのこと、承知いたしました。
こちらのClockを低くすることによるデメリットはありますでしょうか。
JTAGの通信クロックが変わるため、デバッグ時のCCSとのデータ通信や、デバイスへのプログラムのロード時間が長くなる等のデメリットがあるかと存じます。
また、従来は5.5MHzでも接続可能だったのですが、
基板やケーブルの劣化などハードウェア的な問題でこちらの
前述のエラーが発生しやすくなることがあるのでしょうか。前述のエラーについては、ご紹介させていただいたURLで説明されているエラー要因の他にも、JTAG信号自体のノイズ等によって発生する可能性が有ると考えます。
従いまして、基板やケーブルの劣化などハードウェア的な問題が要因となり、問題が多発する可能性はあるかと存じます。以上、よろしくお願いいたします。
guestご回答ありがとうございます。
JTAGの通信クロックが変わるため、デバッグ時のCCSとのデータ通信や、デバイスへのプログラムのロード時間が長くなる等のデメリットがあるかと存じます。
前述のエラーについては、ご紹介させていただいたURLで説明されているエラー要因の他にも、JTAG信号自体のノイズ等によって発生する可能性が有ると考えます。
従いまして、基板やケーブルの劣化などハードウェア的な問題が要因となり、問題が多発する可能性はあるかと存じます。承知いたしました。
お忙しい所ご連絡いただき誠にありがとうございました。
