ホーム › フォーラム › Texas Instruments › インターフェース › ピン間ショートによる破壊可能性について このトピックには2件の返信が含まれ、2人の参加者がいます。5 年、 10 ヶ月前に KJ さんが最後の更新を行いました。 3件の投稿を表示中 - 1 - 3件目 (全3件中) 投稿者 投稿 2019年1月24日 10:34 AM #4942 返信 Osugi参加者 ピン間ショートによる破壊可能性について デバイス型番:THVD1550DGKR 毎度お世話になります。 RS-485トランシーバ:THVD1550DGKRについて、 A(6ピン)とB(7ピン)をショートした際、 トランシーバは破壊される可能性はございますでしょうか? どうぞ、よろしくお願いいたします。 2019年1月25日 4:30 PM #4982 返信 KJ従業員 Osugi様 本デバイスはフェールセーフ機能がありますので、破壊には至りません。 以上、宜しくお願い致します。 KJ 2019年1月28日 11:57 AM #4994 返信 KJ従業員 Osugi様 一点、追加でお伝えさせていただきます。 上記回答で破壊に至らないと回答致しましたが、ショートの際に Ios(Short-circuit output current)=+250mA,or-250mAの電流が流れることがあり、 その際に発生する熱でIC温度が上昇する場合がございます。 本デバイスは、Thermal shutdown temperature(Tj=170℃)が備わっておりますので 破壊には至る前にシャットダウンしますが、デバイスの信頼性に影響を及ぼす可能性は ございますので、ご留意ください。 以上、宜しくお願い致します。 KJ 投稿者 投稿 3件の投稿を表示中 - 1 - 3件目 (全3件中)