ホーム フォーラム Texas Instruments インターフェース ピン間ショートによる破壊可能性について

このトピックには2件の返信が含まれ、2人の参加者がいます。5 年、 8 ヶ月前KJ KJ さんが最後の更新を行いました。

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    投稿
  • #4942 返信
    Osugi
    Osugi
    参加者

    ピン間ショートによる破壊可能性について

    デバイス型番:THVD1550DGKR

    毎度お世話になります。

    RS-485トランシーバ:THVD1550DGKRについて、
    A(6ピン)とB(7ピン)をショートした際、
    トランシーバは破壊される可能性はございますでしょうか?

    どうぞ、よろしくお願いいたします。

    #4982 返信
    KJ
    KJ
    従業員

    Osugi様

    本デバイスはフェールセーフ機能がありますので、破壊には至りません。

    以上、宜しくお願い致します。

    KJ

    #4994 返信
    KJ
    KJ
    従業員

    Osugi様

    一点、追加でお伝えさせていただきます。
    上記回答で破壊に至らないと回答致しましたが、ショートの際に
    Ios(Short-circuit output current)=+250mA,or-250mAの電流が流れることがあり、
    その際に発生する熱でIC温度が上昇する場合がございます。
    本デバイスは、Thermal shutdown temperature(Tj=170℃)が備わっておりますので
    破壊には至る前にシャットダウンしますが、デバイスの信頼性に影響を及ぼす可能性は
    ございますので、ご留意ください。

    以上、宜しくお願い致します。
    KJ

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