ホーム › フォーラム › Texas Instruments › 電源IC › TPS51200のゲイン-位相特性の測定方法について このトピックには1件の返信が含まれ、2人の参加者がいます。5 年、 1 ヶ月前に Polnaref さんが最後の更新を行いました。 2件の投稿を表示中 - 1 - 2件目 (全2件中) 投稿者 投稿 2019年10月9日 4:54 PM #8501 返信 maida参加者 TPS51200のゲイン-位相特性の測定方法について デバイス型番:TPS51200 TPS51200でゲイン-位相特性の測定が可能か教えてください。 TPS51200は例えばNF回路設計ブロック社製 周波数特性分析器(FRA5097)で ゲイン-位相特性の測定することは可能でしょうか? もし可能で、回路やパターンで用意する必要があることがございましたら 教えてください。 2019年10月9日 6:49 PM #8506 返信 Polnaref従業員 maida様 御問い合わせ頂きましてありがとうございます。 TPS51200の帰還制御系は完全にIC内部に取り込まれているため、FRAによる位相余裕の測定はできません。 従いまして、データシートのfig17,fig18,fig25を御参照頂きたく存じます。 以上、宜しくお願い申し上げます。 Polnaref 投稿者 投稿 2件の投稿を表示中 - 1 - 2件目 (全2件中)