ホーム フォーラム Texas Instruments 電源IC TPS51200のゲイン-位相特性の測定方法について

このトピックには1件の返信が含まれ、2人の参加者がいます。4 年、 11 ヶ月前 Polnaref さんが最後の更新を行いました。

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  • #8501 返信

    maida
    参加者

    TPS51200のゲイン-位相特性の測定方法について

    デバイス型番:TPS51200

    TPS51200でゲイン-位相特性の測定が可能か教えてください。
    TPS51200は例えばNF回路設計ブロック社製 周波数特性分析器(FRA5097)で
    ゲイン-位相特性の測定することは可能でしょうか?
     もし可能で、回路やパターンで用意する必要があることがございましたら
    教えてください。

    #8506 返信

    Polnaref
    従業員

    maida様

    御問い合わせ頂きましてありがとうございます。
    TPS51200の帰還制御系は完全にIC内部に取り込まれているため、FRAによる位相余裕の測定はできません。
    従いまして、データシートのfig17,fig18,fig25を御参照頂きたく存じます。

    以上、宜しくお願い申し上げます。
    Polnaref

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