ホーム › フォーラム › Texas Instruments › 電源IC › TPS54620とTPS74801のゲイン-位相特性の測定について このトピックには1件の返信が含まれ、2人の参加者がいます。5 年、 1 ヶ月前に Polnaref さんが最後の更新を行いました。 2件の投稿を表示中 - 1 - 2件目 (全2件中) 投稿者 投稿 2019年10月10日 9:02 AM #8515 返信 maida参加者 TPS54620とTPS74801のゲイン-位相特性の測定について デバイス型番:TPS54620;TPS74801 TPS54620のゲイン-位相特性の測定したいと考えておりますが、 TPS54620の評価基板のユーザーズガイド(SLVU281A)のp5に記載されているように R7を用意し、TP7,TP8,TP9を例えばNF回路設計ブロック社製 周波数特性分析器(FRA5097)に接続するすると測定できますでしょうか? また、TPS74801についてもTPS54620と同様に、正弦波注入用の抵抗を 用意し、周波数特性分析器(FRA5097)に接続する方法で測定できますでしょうか? 2019年10月10日 10:06 AM #8516 返信 Polnaref従業員 maida様 御問い合わせ頂きましてありがとうございます。 TPS54620の評価ボードを用いて、御考えの方法で測定が可能です。 また、TPS54620電流モード動作の為、Webenchでも位相余裕を確認することが可能です。 TPS74801については、たとえ評価ボードを使用し位相余裕を測定する場合、正弦波を印加するためのランドが設けられていない為、評価ボードのR1とVoutの間に100Ωを入れ、その抵抗両端に正弦波を印加します。 但しTPS74801は低ESRコンデンサの使用を許容できるLDOであり、コンデンサの容量がデータシートに記載の推奨値であれば、出力発振の恐れは御座いません。 御参考になれば幸いで御座います。 以上、宜しくお願い申し上げます。 Polnaref 投稿者 投稿 2件の投稿を表示中 - 1 - 2件目 (全2件中)