ホーム フォーラム Texas Instruments 電源IC LM3478_アブノーマル対策について

このトピックには2件の返信が含まれ、2人の参加者がいます。4 年、 7 ヶ月前 wdwune さんが最後の更新を行いました。

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  • 投稿者
    投稿
  • #9769 返信

    wdwune
    参加者

    LM3478_アブノーマル対策について

    デバイス型番:LM3478MM

    LM3478を用いた電源のアブノーマル試験を行っているのですが、
    昇圧用のコイルをショートさせると、
    出力電圧は低下/FET損失増加/FET温度が急激に上昇
    をしています。

    この場合の対策回路はあったりしますでしょうか?

    電源仕様/アブノーマル試験の状態 を下記に記載します。ご参考ください。

    電源仕様
    ・入力電圧 :5.5V/13V
    ・出力電圧 :24V

    アブノーマル試験状態
    ・試験箇所 :昇圧用インダクタをショート etc
    ・試験中の状態 :出力電圧低下/損失の増加

    以上、よろしくおねがいします。

    #9770 返信

    Polnaref
    従業員

    wdwune様

    お問い合わせ頂きましてありがとう御座います。
    お知らせ頂きました条件におきましては、如何なる昇圧コントローラでもFETの破損は防げないと思われます。
    対策としては、入力-インダクタ間にe-Fuse等の過電流遮断機能を有したICを用いることが効果的と考えます。

    御参考になれば幸で御座います。
    Polnaref

    #9771 返信

    wdwune
    参加者

    やはり、ヒューズなどで、遮断する必要がありますよね。

    承知しました。

    以上、ご回答ありがとうございました。

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